產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
本低溫試驗(yàn)箱可以用來(lái)考核和確定產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。
本低溫試驗(yàn)箱滿(mǎn)足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2－2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。
本高低溫試驗(yàn)箱滿(mǎn)足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2－2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。
本高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備可以用來(lái)考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。
本高低溫試驗(yàn)箱可以用來(lái)考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
